Представлены результаты анализа методом конечных
разностей во временной области таких базовых соединений микрополосковых
линий, как поворот линии на 90 градусов, Т-образное и крестообразное
разветвление. Для расчета характеристик данных соединений смоделировано
рассеяние на микрополосковых неоднородностях гауссова импульса. Результаты,
полученные во временной области, наглядно показывают процесс рассеяния
в динамике. При помощи фурье-преобразования данных из временной в частотную
область определены элементы матрицы рассеяния.
Репрезентовано результати аналізу методом скінчених
різниць у часовій області таких базових з'єднань мікросмужкових ліній,
як поворот лінії на 90 градусів, Т-з'єднання та хрестоподібне з'єднання.
Для розрахунку характеристик цих з'єднань змодельовано розсіювання на
відповідних мікросмужкових неоднорідностях гауссова імпульсу. Результати,
що одержано у часовій області, наочно демонструють процес розсіювання
у розвитку. За допомогою фур'є-перетворення даних із часової області
у частотну визначено елементи матриці розсіювання.
Basic junctions of microstrip lines, such as
rectangular bend, T-junction, and cross-junction, are analyzed using
the finite-difference time-domain method. Gaussian pulse scattering
is simulated to achieve time- and frequency-dependent characteristics
of the microstrip junctions. Time-domain results are obtained to explicitly
demonstrate scattering process evolution. Scattering matrix elements
are calculated in frequency-domain from the time-domain data using the
Fourier transform.
